?三豐三次元校正三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)簡(jiǎn)稱CMM,自六十年代中期第一臺(tái)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x問世以來,隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的進(jìn)步以及電子控制系統(tǒng)、檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展,為測(cè)量機(jī)向高精度、高速度方向發(fā)展提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。
?
CMM按測(cè)量方式可分為接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量以及接觸和非接觸并用式測(cè)量,接觸測(cè)量常于測(cè)量機(jī)械加工產(chǎn)品以及壓制成型品、金屬膜等。本文以接觸式測(cè)量機(jī)為例來說明幾種掃描物體表面,以獲取數(shù)據(jù)點(diǎn)的幾種方法,數(shù)據(jù)點(diǎn)結(jié)果可用于加工數(shù)據(jù)分析,也可為逆向工程技術(shù)提供原始信息。
掃描指借助測(cè)量機(jī)應(yīng)用軟件在被測(cè)物體表面特定區(qū)域內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)點(diǎn)采集。此區(qū)域可以是一條線、一個(gè)面片、零件的一個(gè)截面、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線。掃描類型與測(cè)量模式、測(cè)頭類型及是否有CAD文件等有關(guān),狀態(tài)按紐(手動(dòng)/DCC)決定了屏幕上可選用的“掃描”(SCAN)選項(xiàng)。
若用DCC方式測(cè)量,又具有CAD文件,那么掃描方式有“開線”(OPEN LINEAR)、“閉線”(CLOSED LINEAR)、“面片”(PATCH)、“截面”(SECTION)及“周線”(PERIMETER)掃描。若用DCC方式測(cè)量,而只有線框型CAD文件,那么可選用 “開線”(OPEN LINEAR)、“閉線”(CLOSED LINEAR)和“面片”(PATCH)掃描方式。
若用手動(dòng)測(cè)量模式,那么只能用基本的“手動(dòng)觸發(fā)掃描”(MANUL TTP SCAN)方式。若在手動(dòng)測(cè)量方式,測(cè)頭為剛性測(cè)頭,那么可用選項(xiàng)為“固定間隔”(FIXED DELTA)、“變化間隔”(VARIABLE DELTA)、“時(shí)間間隔”(TIME DELTA)和“主體軸向掃描”(BODY AXIS SCAN)方式。